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双城平面光带检测仪 澄明度检测仪的使用方
发布者:xr1211  发布时间:2018-05-15 00:15:09
用途:机械密封件、光学零件、高级平台、平板、导轨等高精度平面零件的平面检测。平面平晶规格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上属非标立品需订做平面平晶产品特点*平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。

用途:机械密封件、光学零件、高级平台、平板、导轨等高精度平面零件的平面检测。功率:20W 电源:220V/50Hz 专用灯源照射平面平晶规格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上属非标立品需订做平面平晶产品特点*平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。技术参数:

用途:机械密封件、光学零件、高级平台、平板、导轨等高精度平面零件的平面检测。平面平晶规格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上属非标立品需订做平面平晶产品特点*平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。





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