品名 | 内置内存 (程序容量) | 规格 | 订货产品号 | |||||
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I/O点数 | 电源 电压 | 输入 规格 | 输出 规格 | 端子形状 | ||||
FP0R-C10 控制单元 | EEP-ROM (16K步) | 10点 | 输入6点 输出4点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 继电器2A | 端子台 | AFP0RC10RS |
FP0R-C10 控制单元 (带RS232C端口) | EEP-ROM (16K步) | 10点 | 输入6点 输出4点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 继电器2A | 端子台 | AFP0RC10CRS |
FP0R-C10 控制单元 (带RS485端口) | EEP-ROM (16k步) | 10点 | 输入6点 输出4点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 继电器2A | 端子台 | AFP0RC10MRS |
FP0R-C14 控制单元 | EEP-ROM (16K步) | 14点 | 输入8点 输出6点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 继电器2A | 端子台 | AFP0RC14RS |
FP0R-C14 控制单元 (带RS232C端口) | EEP-ROM (16K步) | 14点 | 输入8点 输出6点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 继电器2A | 端子台 | AFP0RC14CRS |
FP0R-C14 控制单元 (带RS485端口) | EEP-ROM (16k步) | 14点 | 输入8点 输出6点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 继电器2A | 端子台 | AFP0RC14MRS |
FP0R-C16 控制单元 | EEP-ROM (16K步) | 16点 | 输入8点 输出8点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RC16T |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RC16P | |||||||
FP0R-C16 控制单元 (带RS232C端口) | EEP-ROM (16K步) | 16点 | 输入8点 输出8点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RC16CT |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RC16CP | |||||||
FP0R-C16 控制单元 (带RS485端口) | EEP-ROM (16k步) | 16点 | 输入8点 输出8点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RC16MT |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RC16MP | |||||||
FP0R-C32 控制单元 | EEP-ROM (32K步) | 32点 | 输入16点 输出16点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RC32T |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RC32P | |||||||
FP0R-C32 控制单元 (带RS232C端口) | EEP-ROM (32K步) | 32点 | 输入16点 输出16点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RC32CT |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RC32CP | |||||||
FP0R-C32 控制单元 (带RS485端口) | EEP-ROM (32k步) | 32点 | 输入16点 输出16点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RC32MT |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RC32MP | |||||||
FP0R-T32 控制单元 (带RS232C端口、实时/时钟功能) | EEP-ROM (32K步) | 32点 | 输入16点 输出16点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RT32CT |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RT32CP | |||||||
FP0R-T32 控制单元 (带RS485端口?实时/时钟功能) | EEP-ROM (32k步) | 32点 | 输入16点 输出16点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RT32MT |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RT32MP | |||||||
FP0R-F32 控制单元 (带RS232C端口?无电池全数据自动备份功能) | EEP-ROM (32K步) | 32点 | 输入16点 输出16点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RF32CT |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RF32CP | |||||||
FP0R-F32 控制单元 (带RS485端口?无电池全数据自动备份功能) | EEP-ROM (32k步) | 32点 | 输入16点 输出16点 | DC24V | DC24V ±公共端 | 晶体管 NPN 0.2A | MIL连接器 | AFP0RF32MT |
晶体管 PNP 0.2A | AFP0RF32MP |
※ | 控制单元附带于电源电压订货产品号(AFPG805)。 |
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(2)温度因素温度是影响锂电池寿命的关键因素之一,过高的温度或过低的温度都会造成活性锂离子含量的,从而锂电池寿命。高温条件下,三元材料各金属元素的配比及电解液的性能对电池容量有重要影响。在少量循环之前,电池在高温下放电容量要高于电池的额定容量和常温下的容量(如下图),这是由于高温时电解液的黏度低,离子传质快,极片的反应活性高,电池才出较高的充放电容量。但是随着在高温下循环增多,电池内电解液会出现较快分解,在电极表面生成厚而不均的钝化膜[4],电极材料结构,金属离子溶出,容量衰减严重。在低温条件下(如-10℃),电解液粘度增大,离子传导速度变慢,与外电路电子迁移速度不匹配,电池出现严重极化,充放电容量出现急剧。尤其是在低温充电的情况下,会出现从正极迁移过来的Li+来不及嵌入到负极的碳层层格中,在负极端形成锂金属结晶,电池容量,长时间低温下充电会引发锂枝?
松下PLC控制器AFPXHC60TD