日本Irix 3D-SIM超分辨率显微镜系统DeltaVision OMX SR
这是使用3D结构照明（3D-SIM）技术的超分辨率成像系统。超出常规显微镜的光学分辨率极限，当使用488 nm的激发光源时，XY轴方向的分辨率可达到120 nm，Z轴方向分辨率可达到340 nm。此外，可以以0.8秒的 速度拍摄可达到1um的厚度，因此可以获得高速动态移动的单元的详细3D信息。结果，可以对诸如细胞内结构和神经突的微观结构进行成像和更详细地分析。
■特性■
●可以在Z方向和XY方向上进行超高分辨率观察
●通过高速3D-SIM 可以进行超高分辨率的活细胞成像
●低成本，节省空间，不需要暗室
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