DAISI 全自动端面检测干涉仪--日本SENKO产品概述：

DAISI是业界公认的目前测量精度、重复性最好的干涉仪，它具有精度高，再现性好，易携带的特点，与计算机连接只需要一根USB线，免除了连线的繁琐和不便。

DAISI的表面没有任何移动部件，因而极大的避免了由于运动部件的碰撞而带来的测量不准确。同时，由于其独特的长臂转动的角度变换设计，使得在测量APC时的8度定位极其准确。DAISI在测量时对环境的震动很不敏感，即便是在测量时用手强烈的敲击台面，也不会对干涉条纹产生眼睛感觉到的变化。这样就使得它非常适合在工厂和现场检测。另外，它的一键测量，自动对焦又使它具备了很高的效率。如果另配上MT-RJ模块，就可完全单芯和双芯连接器的同机测量。
 

DAISI 全自动端面检测干涉仪--日本SENKO产品特点：

非接触式、无外接运动部件、震动非敏感

耐用的多种连接器夹具（PC/APC）

自动连接器支持、自动对焦、自动校准

IEC/Telcordia标准、Data-Pixe独有的快速检测软件（2.5秒）

用户可自行设定程序、便于携带，适用于工厂和现场检测

简单的一键式控制、单独的连接线（USB2.0）
 

DAISI 全自动端面检测干涉仪--日本SENKO技术指标：

测量参数（单位） 范围 精度/准确度/再现性

曲率半径 （mm） 3～100mm 5%/0.1%/0.2%

光纤球面高度 （nm） +/-160nm 10um/1.5um/2um

光纤平面高度 （nm） +/-160nm 10um/1um/1.5um

偏轴量 （um） 0～300mm 5um/0.5um/1um

球面定点方位角（Deg.） 0～360 N/A

角度误差 （Deg.） 根据定点计算 N/A

定位键角度误差（Deg.） 根据定点计算 N/A

插芯粗糙度 （nm） 0～160nm 10nm/2nm/2nm

光纤粗糙度 （nm） 0～160nm 10nm/2nm/2nm

准确性和再现性：1∑计算机数值

准确性由50次的连续计算（插芯固定）测量值计算得出

再现性误差由50次的插入/拔出测量值计算得出