产品简介
激光扫描坐标测量机
激光扫描坐标测量机
产品价格:¥1
上架日期:2011-10-09 17:13:28
产地:美国
发货地:湖南长沙
供应数量:不限
最少起订:11
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详细说明

    在三维坐标空间中,被测量对象任意安放,采用激光扫描,快速完成各类几何形

    体的特征点、线、面,自由两面的扫描探测,用于逆向工程设计、复杂曲面的快

    速扫描、抄数以及工件的三维测量。可完善配置触发测头,实现对各类几何实际

    轮廓和虚拟的点、线、面的各类坐标点进行探测和完成尺寸、角度及形位公差的

    测量,适合机械、模具、逆向造型、测绘、教学及各类艺术领域。
    特点:
    1、全花岗石构件结构,刚性强、稳定、保持精度持久;
    2、性价比高、维护简单、操作方便、带有温度修正体系;
    3、适应生产现场,有机动、机/手动、手动订货选择。其中,手动采用专利技术

    、可实现坐标快速、微动驱动和锁紧三位一体的准确坐标定位。
    4、柔性选择性强,可配置不同规格精度等级的光栅尺系统、传感器测头系统,可

    实现开环、闭环式运动控制,实现扫描、检验测量多种扩展功能。
    5、悬挂触发式测头可实现三坐标测量功能。
    性能

    型号 ZBJE激光扫描坐标测量机(抄数机)
    量程 X: 300~1000mm  Y:200~1200mm  Z:200~800mm
    运动方式 手动、机动、自动 的开环、闭环多种方式
    激光扫描测头 美国Nxsensor激光扫描传感器
    激光扫描测头分辨率 0.005mm
    激光扫描测头精度 0.025mm
    激光扫描精度 (0.03+L/20) mm    L: m
    采样速度 最大每秒钟6400点
    激光扫描软件 Leading laser scanning software / Nxclone laser

    scanning software
    文件输出格式 Igs 、nwf  可实现 UG 、PRO-E 等逆向工程软件数据转换
    触发测头系统 Renishaw 触发式测头
    触发测头测量分辨率 0.001mm
    触发测头测量系统精度 (0.005+L/200)mm  L: m
    触发测头测量系统软件 DELCAM PIN LITE 、DELCAM INSPECT  X-DMIS

     

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