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产品简介

CH-1-S型薄膜测厚仪--国产

产品价格：￥1

上架日期：2010-12-14 16:11:23

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发货地：深圳

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详细说明

、CH－1－S型薄膜测厚仪产品简介
    本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、技术指标
    量    程：0-1mm　
    分度值：0.001mm
    上测头曲率半径：15-50mm
    测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
    测量精度：100vm以内＜1vm

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