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K1SM探伤仪探头美国GE
K1SM探伤仪探头美国GE
产品价格:¥面议
上架日期:2021-03-23 21:07:32
产地:本地
发货地:本地至全国
供应数量:不限
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详细说明

    品牌:美国GE 型号:K1SM 加工定制:否
    类型:超声波 测量范围:10 分辨率:20*22
    尺寸:19*15 mm 重量:0.05 kg


    K1SM探伤仪探头美国GE

    美国GE探伤仪探头 K..S,K..SM,K..SC和MK..S(粗晶探头):用于测试这样一类的中等尺寸和大尺寸物体,它们的材料会通过声波的散射作用(例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合成材料等制成的物体)而导致高的声波衰减,它们也可以用于测试材料的物理特性(例如建筑材料、岩芯和半导体材料的特性)。


    特性:在粗糙表面上具有稳定的耦合性
    注释:
    粗体=首选探头,带简短 注释说明
    O= 提供探头数据表
    O= 提供DGS标尺
    关于表中数据的解释,见第4页中选择标准。
    关于声束形状见第37页中声束形状编号。
    类型
    [订购号码]
    D[mm] [mm] f [MHz] AB N [mm] EB [mm] 声束形状
    编号
    备注 草图
    特性带宽25%
    B0.5SL
    B1SL
    B2SL
    34
    34
    30
    0.5
    1
    2
    175-480
    80-1600
    40-3100
    23
    46
    71
    10
    8
    5
    0.5-34
    1-34
    2-30
    类型1
    B1S
    B2S
    B4S
    B5S
    24
    24
    24
    24
    1
    2
    4
    5
    70-1200
    23-3000
    15-3000
    15-6000
    23
    45
    88
    110
    6
    5
    3
    3
    1-24
    2-24
    4-24
    5-24
    提供连接器顶端类型B.S-O 类型2
    MB2S
    MB4S
    MB5S
    10
    10
    10
    2
    4
    5
    30-800
    15-1500
    10-2000
    8
    16
    20
    4
    3
    3
    2-10
    4-10
    5-10
    提供连接器顶端类型MBS-O 类型3
    特性带宽:60%
    K0.5S
    K1S
    K0.5SM
    K1SM
    34
    34
    28
    28
    0.5
    1
    0.5
    1
    100-250
    50-1350
    80-145
    40-780
    23
    46
    15
    31
    10
    6
    8
    6
    0.5-34
    1-34
    0.5-28
    1-28
    具有强声波衰减的材料试的粗粒探头 类型1
    类型1
    类型2
    类型2
    合成单元,特性带宽:80%
    K1SC
    K2SC
    MK1S
    MK2S
    MK4S
    24
    24
    10
    10
    10
    1
    2
    1
    2
    4
    35-1200
    18-3000
    30-350
    15-700
    10-1300
    23
    45
    4
    8
    16
    6
    3
    6
    3
    2
    1-24
    2-24
    1-10
    2-10
    4-10
    粗粒探头 特别适合于拉链技术中塑料的测试 类型2
    类型3
    可按用户需求提供其它衰减值(带宽)、连接插座、频率或单元尺寸的探头。
    附件描述 类型 备注
    保护膜
    1=10片)
    延迟线或延迟楔
    探头电缆(2米)耦合剂
    DGS标尺
    ES57
    ES45
    ES24
    承索
    PKLL2
    MPKL2
    ZG-F
    用于B..SL;K..S
    用于B..S;K..SM;K..SC
    用于MB..S;MK..S
    如用于高温下的测试
    用于B..K..
    用于MB..SMK..S
    36
    35



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