数据采集仪特点
 兼容PCIE 2.0, PCIE X1
 16 bit A/D, 8路差分/16路单端
 采样率250 kS/s (DAQ1635/A)
              740 kS/s (DAQ1636/A)
 支持外部同步保持(SSH)技术
 100% 数字校准
 512个通道/增益扫描缓冲器  
        2048字节的数据缓冲器
 支持多种触发方式：
        内部/外部/模拟/数字/软件触发
 2路16 bit 250 kS/s模拟输出(可选)
 8 路多用途数字I/O,可设置
 32位定时器/计数器
 中文操作软件:C-DAS (详见31页)
数据采集仪通道数 16路单端/8路差分
接线端口 微68芯 SCSI接口
输入范围 4个输入范围 (可扩展12个)
输入电压范围 (可通过扫描列表编程选择)
双极性 ±10V, ±5V
单极性 0V ~ 10V, 0V ~ 5V
建立时间 在满量程范围内4 μs稳定到1 LSB
最大输入电压 ±11V（相对于模拟地）
过压保护 ±35V
输入阻抗 1MΩ
分辨率 16 bit
输出电压范围 ±5V, ±10V, 0~ +5V, 0~ +10V
同步输出 支持
输出缓冲 每通道256个点
A/D类型 逐次逼近, 250 kS/s (DAQ1635)
 逐次逼近, 740 kS/s (DAQ1636)
转换时间 1.45 μs (DAQ1635)
 0.95/1.25 μs (Warp/Normal, DAQ1636)
数据采集卡采样时间 0.38 μs
信号噪音失真比 93 dB典型值 @2 kHz
总谐波失真(THD) –107 dB典型值 @2 kHz
DC精确度 转换噪音0.55 LSB, 不丢码16 bit
AC精确度      转换噪音93 dB,总谐波失真-107 dB
数据传输 支持DMA数据传输
扫描列表深度 2048字节
扫描列表参数 内部/外部通道, 增益, 单/双极性
数据采集仪采样率(通道间) 可编程4, 5, 10, 20 μs
采样时钟(列表间) 可编程 每秒25万次到7分钟一次
通道间同步时钟 每个同步时钟单位为0.05 μs
通道数 1个32位独立定时器, 1个32位自由定时器
输入频率 最大10 MHz
触发电平 LVTTL
输出 1MHz到1/4,294,967,296MHz
通道数 8个可设置为输入输出
输入输出电平 LVTTL
数据采集仪功耗 正常工作5W
温度范围 0 ~ +60?C(操作); -40 ~ +80?C(存储)
尺寸 120 mm W x 63.5 mm H x 15 mm D
端子板、线缆 提供多种选择，根据实际测试需求而定