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参数 |
AI |
AO |
CTR |
DIO |
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型号 |
分辨率 |
采样速率 |
通道数 |
分辨率 |
采样速率 |
通道数 |
通道数 |
通道数 |
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PCIe5630D |
16bit |
500Ksps |
64路单端/32路差分 |
16bit |
1Msps |
4路 |
2路 |
32路 |
|
PCIe5631D |
16bit |
500Ksps |
32路单端/16路差分 |
16bit |
1Msps |
2路 |
1路 |
16路 |
|
PCIe5632D |
16bit |
250Ksps |
64路单端/32路差分 |
16bit |
1Msps |
4路 |
2路 |
32路 |
|
PCIe5633D |
16bit |
250Ksps |
32路单端/16路差分 |
16bit |
1Msps |
2路 |
1路 |
16路 |
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AI模拟量输入 |
ADC分辨率 |
16位（Bit） |
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采样范围 |
±10V、±5V、±2V、±1V |
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采样速率 |
单通道：采样频率为500 KSps 多通道：各通道采样频率=500 KSps / 设置的采样通道总数 |
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采样模式 |
按需单点采样、有限点采样、连续采样 |
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存储器深度 |
16K字（点）FIFO存储器 |
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通道扫描模式 |
异步循环扫描 |
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触发源 |
软件强制触发、模拟触发、数字触发 |
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AO模拟量输出 |
分辨率 |
16位（Bit） |
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转换速率 |
单通道1Msps，多通道500k |
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输出范围 |
±10V |
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驱动能力 |
5mA |
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通道输出模式 |
同步输出 |
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生成模式 |
单点（按需）生成、有限点生成、连续生成 |
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CTR计数器 |
计数器位数 |
32位 |
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电气标准 |
TTL电平 |
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计数器功能 |
CI：边沿计数、频率测量、周期测量、半周期测量、脉宽测量、 双边沿间隔测量、线性位置测量、角度位置测量 |
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CO：脉冲输出 |
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DI/O |
通道数 |
8路支持带缓存DIO（P0.<0..7>） |
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PFI通道 |
24路(PCIe5630D/5632D)；8路(PCIe5631D/5633D) |
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配置方式 |
程控I/O方向与状态 |
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采样方式 |
按需单点采样、有限点采样、连续采样 |
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软件自动校准 |
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支持多卡同步 |
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1. 产品光盘：1张
2. 保修卡：1张
3. 合格证：1张
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