1.技术指标： |
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1. |
X射线管：专用薄铍窗侧窗X光管(Mo靶，最大功率50W) |
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2. |
高压电源：50KV,1mA |
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3. |
分析元素种类： 金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铑、锇、铱等 |
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4. |
探 测 器：电制冷Si-PIN探测器 |
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5. |
滤 光 片：八种新型滤光片自动选择 |
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6. |
照射直径：2mm、5mm |
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7. |
样品类型：固体/粉末/液体 |
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8. |
单个样品测量时间：60-300S（可选） |
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9. |
样品观察：130万像素彩色CCD |
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10. |
分析精度：0.05%（98%以上） |
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11. |
分析范围：1ppm-99.9% |
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12. |
工作温度：15～30℃ 相对湿度30～85%(不结露) |
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13. |
电 源：AC220V～240V，50/60Hz |
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14. |
外型尺寸：640(W)*474(D)*412(H)mm |
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15. |
仪器重量：约48kg |
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2.2随机标准附件： |
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1. |
操作说明书 |
1 |
册 |
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2. |
P4计算机、19寸液晶显示器 |
1 |
台 |
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3. |
打印机（彩色喷墨打印机） |
1 |
台 |
|
4. |
测试用样品杯 |
2 |
个 |
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5. |
银校正标样 |
1 |
片 |
|
2.3软件可实现功能： |
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1. |
检测金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铑、锇、铱等贵金属，一次可同时分析多种元素 |
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2. |
自动生成人性化测试报告 |
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备 注 |
仪器技术指标、性能和部分功能、外形、颜色如有改变，恕不另行通知，敬请谅解。 |
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三、仪器硬件主体配置
3.1 探测系统 |
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类型：电制冷Si-PIN探测器 (采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器) 型号：XR-100CR 制造商：美国Amptek公司生产 |
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3.2 X光管 |
图 片 |
制 造 商：丹东 电 压: 0 ~ 50 kV 最大电流: 1.0 mA 最大功率: 50 W 灯丝电压: 2.0V 灯丝电流: 1.7 A 射线取出角：12° 靶 材：Mo Be窗厚度：0.5mm |
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3.3 高压电源 |
图 片 |
生 产 商：美国Spellman公司生产 型号：MNX50P50 输入电压: DC 24V±10% 输入电流：4.0A（最大） 输出电压: 0 -50kV 最大功率：50W 8小时稳定性：0.05% |
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3.4 微动平台与高分辨率CCD |
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载物测试平台，配有微调装置，可方便的实现检测物的定位与检测区域的调整。 130万像素的CCD摄像头，可有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。 |
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3.5 大样品腔 |
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小样品腔尺寸(闭仓门测试)：300*300*100mm 大样品腔尺寸(开仓门测试)：无限制，部分取代手持式功能 |
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3.6 散热系统 |
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高效三维散热系统，大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。 |
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3.7 防辐射安全系统 |
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三重射线防护系统（软件、硬件、迷宫式设计），开盖测试自动警示系统。 |
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四、仪器软件功能及特点 |
1、功能 |
1. 可以对Cl-U元素进行分析； 2. 分析方法：华唯独创FP法； 3. 分析报告：多种语言格式(简体中文 繁体中文 英文等)及文档格式报告，如Excel、PDF等，预设标准模板，用户还可以自定义模板格式，所有文档可自由打印和保存； 4. 数据自动保存：所有样品测试后的数据均会自动保存，测试结果具有可追溯性； 5. 稳定性自检功能：可即时对仪器当前稳定性进行自动检测； 6. 操作界面多语种:英语、简体中文、繁体中文等。 |
2、特点： |
1. 预置贵金属标准工作曲线，涵盖金、银、铂、钯、铜等贵金属及杂质金属分析； 2. 提供开放式工作曲线平台，用户可以自由配置工作曲线以及任意添加标样数据，以满足更高测试度的要求及测试元素扩展； 3. 人性化的软件界面与操作方法，使用独有图形显示技术，既方便又直观；结合大量操作经验优化操作步骤，极大方便用户； 4. 精确的数据处理方式：以基本参数法为依据精确配置的滤光片系统大幅提高峰背比，结合一系列先进的光谱处理方法，极大提高特征谱线的检出精度，只需采用纯元素即可对样品实现粗略定量分析，再添加少量标样即可对样品实现精确分析； 5. 数据管理：由数据库支持的专业化报表生成、查询打印、操作员分级授权等功能极大方便企业管理； 6. 完善的安全连锁功能：配合硬件电路的防护措施，在不安全的操作发生时自动切断X射线确保操作员不受伤害； 7. 智能化软件保护，避免不当操作对光谱仪的损伤，延长仪器使用寿命。 |
