?工厂转让一台2014年日立?FT9500?X射线荧光镀层厚度测量仪

销售技术杨经理：18103045976

仪器简介：

SFT9500的X射线发生系统是X射线聚光系统（聚光导管）与X射线源相结合，产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束。所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想精度的导线架、接插头、柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。同时，SFT9500采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器（无需液氮），在测量镀膜厚度的同时，对于欧盟的RoHS&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。
技术参数：
SFT9500产品规格
可测量元素：原子序数13(Al)～83(Bi)
X射线聚光：聚光方式
X射线源：管电压：50kV?

???????????????管电流：1mA
检测器：Vortex?检测器(无需液氮)
分析范围：Φ0.1mm、Φ5mm
样品观察：彩色CCD摄像头（附变焦功能）
滤波器：3种模式自动切换
样品室：样品平台?????240(W)×330(D)mm
????????????????移动量??????X：220mm??Y：150mm???Z：150mm
????????????????载重量??????10kg
重量：123kg(不含电脑)
X-ray?Station：台式电脑?19"LCD?(OS;?MS-WindowsXP?)
膜厚测量软件：薄膜FP法（最多五层，各层十种元素）
???????????????????????检量线法（单层、双层、合金膜厚成分）
定量分析功能：块体FP法
统计处理功能：MS-EXCEL?
报告制作：MS-WORD?
安装环境：温度：10℃～35℃(±