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微区扫描电化学工作站说明

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上架日期：2017-10-31 18:35:23

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详细说明

　　扫描电化学显微系统（SECM）
交流扫描电化学显微镜系统（ac-SECM）
间歇接触扫描电化学显微镜系统（ic-SECM）
微区电化学阻抗测试系统(LEIS)
扫描振动点击测试系统（SVET）
电解液微滴扫描系统（SDS）
交流电解液微滴扫描系统（ac-SDS）
扫描开尔文探针测试系统（SKP）
非触式微区形貌测试系统（OSP）
M470是由Uniscan仪器开发的第四代扫描探针系统，具有更高规格和更多探针技术。
更多有关微区扫描电化学工作站的资讯，请登录http://www.dhsi.com.cn/。

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南充澳斯贸易有限公司

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