TP200采用微应变片传感器，实现优异的测量重复性和精确的3D空间形状测量精度，即使配用长测针时也不例外。
传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。
TP200采用微应变片传感器，实现优异的测量重复性和精确的3D空间形状测量精度，即使配用长测针时也不例外。
传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题。测头采用成熟的ASIC电子元件，确保了在数百万次触发中的可靠操作。
TP200B采用的技术与TP200相同，但允许更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。
请注意，我们不推荐TP200B配用LF模块或曲柄/星形测针。
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规格摘要 |
TP200 | TP200B |
|---|---|---|
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主要应用 |
用于需要高精度的数控坐标测量机。 |
与TP200一样，但是用在出现误触发事件的场合。 |
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感应方向 |
六轴：±X、±Y、±Z |
六轴：±X、±Y、±Z |
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单向重复性 (2s µm) |
电平触发1：0.40 µm 电平触发2：±0.50 µm |
电平触发1：0.40 µm 电平触发2：±0.50 µm |
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XY（2D）轮廓测量偏差 |
电平触发1：0.80 µm 电平触发2：±0.90 µm |
电平触发1：±1 µm 电平触发2：±1.2 µm |
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XYZ (3D) 测量偏差 |
电平触发1：±1 µm 电平触发2：±1.40 µm |
电平触发1：±2.50 µm 电平触发2：±4 µm |
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测针交换的重复性 |
SCR200：±0.50 µm（最大） 手动：±1 µm（最大） |
SCR200：±0.50 µm（最大） 手动：±1 µm（最大） |
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测力（测尖） |
XY平面（所有模块）：0.02 N Z轴（所有模块）：0.07 N |
XY平面（所有模块）：0.02 N Z轴（所有模块）：0.07 N |
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越程测力（位移为0.50 mm时） |
XY平面（SF / EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N Z轴（SF / EO模块）：4.90 N Z轴（LF模块）：1.60 N |
XY平面（SF / EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N Z轴（SF / EO模块）：4.90 N Z轴（LF模块）：1.60 N |
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重量（测头传感器和模块） |
22 g |
22 g |
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最长加长杆（如配在PH10 PLUS系列测座上） |
300 mm |
300 mm |
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推荐的最大测针长度（M2测针系列） |
SF / EO模块：50 mm钢质至100 mm GF LF模块：20 mm钢质至50 mm GF |
SF / EO模块：50 mm钢质至100 mm GF LF模块：20 mm钢质至50 mm GF |
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安装方式 |
M8螺纹 |
M8螺纹 |
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适合的接口 |
PI 200-3、UCC |
PI 200-3、UCC |
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测针模块交换架 |
自动：SCR200 手动：MSR1 |
自动：SCR200 手动：MSR1 |
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测针系列 |
M2 |
M2 |
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