RHESCA CSR-5000超薄膜附着强度测试仪 衡鹏供应


RHESCA CSR-5000超薄膜附着强度测试仪
基于JIS R-3255标准，以MICRO SCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。为成膜研究与测试所必备的测试设备。


CSR-5000超薄膜附着强度测试仪特点：
·CSR-5000采用高感度的能够检测出薄膜破坏的MICRO SCRATCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。
·可测量膜厚μm以下的超薄膜的密着强度。
·加热环境下评价可能。
·镜片等曲面测量可能。
·可以进行以特定荷重来评价的特定负荷测试
·测试部位的设定以及测试后的划伤观察等简单易行
·测试不需要花费很多时间(1次测试约1～2分钟)


RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-5000规格
荷重检出机构        荷重印加范围        1mN ～1500mN
               荷重分解能        0.3mN
               允许过负荷        300%FS
剥离检出（垂直方向） 检出信号        加速度信号
               频率范围        20Hz ～10kHz
摩擦力检出（水平方向） 检出信号        速度信号
               频率范围        20Hz ～10kHz
传感器励振机构        励振频率        45Hz
               励振振幅        0·5·10·20·40·50·80·100μm
探针                触针形状        Φ1.6×6.5mm
               尖端材质 / 尖端形状 金刚石R 5?10?15?25?50?100μm
               尖端材质 / 尖端形状 蓝宝石R 250?500μm
Z 轴驱动机构
※荷重印加方向        驱动方式        步进马达驱动
               驱动范围        20mm
               驱动分解能        0.5μm
               驱动速度( 测试时) 0 ～20μm/s
               驱动速度( 准备时) 1mm/s
试料台XY轴移动机构 驱动方式        千分尺手动调节
               移动范围        ±6.5mm
Data输出方式                                USB
尺寸及重量                                W540×D520×H630 (37kg) 含显微镜
电源                                        AC100V ～240V



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