日本kett电磁膜测厚仪LE-200J
| 测量方式 | 电磁感应式 |
|---|---|
| 测量目标 | 磁性金属上的非磁性涂层 |
| 测量范围 | 0-1500μm或60.00密耳 |
| 测量精度 | 小于15μm：±0.3μm，15μm或以上：±2％ |
| 解析度 | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm |
| 符合标准 | JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376 |
| 统计功能 | 测量次数，平均值，标准偏差，最小值，程序段号 |
| 探测 | 单点接触恒压型（LEP-J） |
| 显示方式 | 数字（LCD，最小显示位数0.1μm） |
| 外部输出 | RS-232C接口（传输速度2400bps） |
| 电源 | AC100V（50 / 60Hz）或电池1.5V（AA碱性）主机x 6，打印机x 4 |
| 尺寸/质量 | 120（W）x 250（D）x 55（H）毫米，1.0公斤 |
| 配件 | 标准板（10μm，50μm，100μm，350μm，800μm，1 mm，所有近似值，各1张），铁底座，标准板盒，电池1.5 V（AA碱性），AC适配器，探头适配器，打印纸，手提箱 |
| 选项 | L型探头（LEP-21L），RS-232C连接电缆，数据管理软件“ Data Logger KDL-01”，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”，“ McWAVE Professional”，“ MultiProp” |
