独创的成像和照明光学系统设计，使它有更好的对比度和景深。与CS型或C型CCD(CMOS)摄像头、显示器、计算机连接，适用于电子设备、半导体、LCD、LED等领域的数码成像观察、检测和测量，特别是低反射率物体（如平面印刷，LCD缺陷）的检测。
主要技术规格：
