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无锡镀层成分分析
无锡镀层成分分析
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上架日期:2012-09-16 12:44:01
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    报告专业权威,国际认可

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    主要应用于各种固体材料体相杂质的直接测量,包括镀层,涂层和薄膜,也就是用于纯度分析和杂质分析

    检测面积:40200平方毫米(消耗50微米厚度的样品)

    检测极限:ppb 级别 

    检测范围:73种元素

    主要适合以下产品:

    高纯材料

    合金

     

    碳及石墨材料

     

    半导体材料  (硅)

     

    氧化物,碳化物,及陶瓷材料

     

    粉末状样品

     

    损坏面积:厚度50微米,面积

     

    块状样品:大于20mm

     

    尺寸不足的样品(粉末颗粒等)增加制样费1000

     

    (因为需要用到79的铟)

     

    金属样品     rmb  4500

     

    半导体样品(si ,GaAs   rmb 5000

     

    非导体(氧化物,碳化物,石墨,陶瓷材料)  rmb  5500

     

     

    如指定元素小于等于25,费用分别是以上费用的0.8倍。

     

     

     

    AES(auger)

     

    针对导体和半导体

     

    表面颗粒的分析

     

    小区域污染物的发现和判定

     

    材料薄层纵向分布分析

     

    原理雷同eds ,只是能量稍小。

     

     

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