一、产品说明：

   XT-50型冲击试样缺口投影仪我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器。

  冲击试样缺口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。是理化试验室的必备专用设备

  二、技术参数1：

  1.投影屏直径：180mm

  2.冲击试样缺口投影仪方工作台尺寸：110×125mm

  3.圆工作台直径：90mm

      4.工作台玻璃直径：70mm

      三、技术参数2：

  1.工作台行程：

  纵向：±10mm

  横向：±10mm

  2.冲击试样缺口投影仪升降：±12mm（无刻度）

  3.工作台转动范围：0~360°（无刻度）

  4.仪器放大倍率：50X

      5. 物镜放大倍率：2.5X

     四、技术参数3：

  1.投影物镜放大倍率：20X

  2.光源（卤钨灯）：12V100W

  3.电源：220V50Hz

  4.冲击试样缺口投影仪外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）

  5.重量：约18Kg

  五.主要配置： 

  1.冲击试样缺口投影仪主机 一台

  2.底座调整钮 四个

  3.电源线 一根

  4.卤钨灯 二个

  5.平板玻璃 一块