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GE/KK带可更换保护膜的接触法探头K1S探伤仪探头
GE/KK接触式探头的选择标准：K1S探伤仪探头-主要特性：
如果没有关于合适的探头的确定的概念，那么下面可以推荐一些标准以便参考：
首先，要决定选用单探头还是TR探头，如果要探测近表面的缺陷，那TR探头更合适些。
其次，就是根据预期的缺陷位置决定使用直探头还是斜探头。
由于大反射物的镜面声波反射现象，声波束应该垂直入射到反射物表面。当频率增加时，这一点必须要特别注意。
第三，就是考虑远场分辨率（回波宽度）。
最后，借助于表中给出的数值和给出的探头类别选择，可依据尺寸、频率、波谐和工作量程等选择最合适的探头。
K1S探伤仪探头-主要应用领域
通常：用于容积形或者平等于表面的缺陷的探测和评估。可互换的抗磨损的保护膜可以使得探头在粗糙或者弯曲的表面也达到尽可能好的耦合，并防止探头受损。 B..SL：
探头型号有：B0.5SL B1SL B2SL
用于测试这样一类中等尺寸和大尺寸物体，它们由于具有长的声程（例如大的锻件或球墨铸铁）而会导致大的声波衰减。它们也适合用于测试具有强的声波吸收特性的塑料（例如尼龙、特氟龙、聚丙烯），为增加灵敏度和分辨率，可以将保护膜去掉。
K..S，K..SM，K..SC和MK..S(粗晶探头)：
探头型号有：K0.5S、K1S、K0.5SM、K1SM、K1SC、K2SC、MK1S、MK2S、MK4S
用于测试这样一类的中等尺寸和大尺寸物体，它们的材料会通过声波的散射作用（例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合成材料等制成的物体）而导致高的声波衰减。
它们也可以用于测试材料的物理特性（例如建筑材料、岩芯和半导体材料的特性）。
B..S和MB..S：
探头型号有：B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S
这类探头的公差分布范围窄，对目前大多数的测试任务来说（例如平板物、条状物和方形轮廓物体的测试，以及窗口和螺钉、螺孔和外壳等的测试），可以达到最高的精度要求。对于由多种材料（例如所有的金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）构成的开关简单的部件的测试也可以达到高精度要求。
  B..S和MB..S： 探头型号有：B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S 这类探头的公差分布范围窄，对目前大多数的测试任务来说（例如平板物、条状物和方形轮廓物体的测试，以及窗口和螺钉、螺孔和外壳等的测试），可以达到最高的精度要求。对于由多种材料（例如所有的金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）构成的开关简单的部件的测试也可以达到高精度要求。 美国GE、德国KK公司 单晶直探头型号如下：
探头详细信息请致电：0755-22325800,22325920咨询了解！ |
