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MiniTest 725/735/745涂层测厚仪 德国EPK品牌
MiniTest 725/735/745涂层测厚仪 德国EPK品牌
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上架日期:2022-12-16 13:54:25
产地:浙江宁波市
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详细说明

     MiniTest 725/735/745涂层测厚仪 德国EPK品牌


    MINITEST 725/735/745涂层测厚仪技术数据表SIDSP探头

    探头特性

    F1.5,N0.7,FN1.5

    F2

    F5,N2.5,FN5

    F15

    F

    F

    F

    F

    测量范围

    0-1.5mm

    0-0.7mm

    0-2mm

    0-5mm

    0-2.5mm

    0-15mm

    使用范围

    小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用

    粗糙表面

    标准探头,使用广泛

    厚涂层

    测量原理

    磁感应

    电涡流

    磁感应

    磁感应

    电涡流

    磁感应

    信号处理

    探头内部32位信号处理(SIDSP)

    精确度

    ±(1μm+0.75%读值)

    ±(1.5μm+0.75%读值)

    ±(5μm+0.75%读值)

    重复性

    ±(0.5μm+0.5%读值)

    ±(0.8μm+0.5%读值)

    ±(2.5μm+0.5%读值)

    低端分辨率

    0.05μm

    0.1μm

    1μm

    小曲率半径(凸)

    1.0mm

    1.5mm

    5mm

    小曲率半径(凹,外置探头)

    7.5mm

    10mm

    25mm

    小曲率半径(凹,内置探头)

    30mm

    30mm

    30mm

    小测量面积

    Φ5mm

    Φ10mm

    Φ25mm

    小基体厚度

    0.3mm

    40μm

    0.5mm

    0.5mm

    40μm

    1mm

    连续模式下测量速度

    每秒20个读数

    单值模式下大测量速度

    每分钟70个读数

    MINITEST 725/735/745涂层测厚仪主机

    型号特性

    MINITEST 725

    MINITEST 735

    MINITEST 745

    探头类型

    内置

    外置

    内置外置可换

    数据记忆组数

    10

    10

    100

    存储数据量

    多10,000个

    最多10,000个

    最多100,000个

    统计值

    读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)

    校准程序符合国际标准和规范

    ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准

    校准模式

    出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值

    极限值监控

    声、光报警提示超过极限值

    测量单位

    um,mm,cm;mils,inch,thou

    操作温度

    -10℃-60℃

    存放温度

    -20℃-70℃

    数据接口

    IrDA 1.0(红外接口)

    电源

    2节AA电池

    标准

    DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840ASTM B244,B499,D7091,E376AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

    体积

    157mm x 75.5mm x 49mm

    重量

    约175g

    约210g

    约175g(内置)/230g(外置)


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