MiniTest 725/735/745涂层测厚仪 德国EPK品牌
MINITEST 725/735/745涂层测厚仪技术数据表SIDSP探头
F1.5,N0.7,FN1.5
F2
F5,N2.5,FN5
F15
F
F
F
F
测量范围
0-1.5mm
0-0.7mm
0-2mm
0-5mm
0-2.5mm
0-15mm
使用范围
小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用
粗糙表面
标准探头,使用广泛
厚涂层
测量原理
磁感应
电涡流
磁感应
磁感应
电涡流
磁感应
信号处理
探头内部32位信号处理(SIDSP)
精确度
±(1μm+0.75%读值)
±(1.5μm+0.75%读值)
±(5μm+0.75%读值)
重复性
±(0.5μm+0.5%读值)
±(0.8μm+0.5%读值)
±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率
0.05μm
0.1μm
1μm
小曲率半径(凸)
1.0mm
1.5mm
5mm
小曲率半径(凹,外置探头)
7.5mm
10mm
25mm
小曲率半径(凹,内置探头)
30mm
30mm
30mm
小测量面积
Φ5mm
Φ10mm
Φ25mm
小基体厚度
0.3mm
40μm
0.5mm
0.5mm
40μm
1mm
连续模式下测量速度
每秒20个读数
单值模式下大测量速度
每分钟70个读数
MINITEST 725/735/745涂层测厚仪主机
MINITEST 725
MINITEST 735
MINITEST 745
探头类型
内置
外置
内置外置可换
数据记忆组数
10
10
100
存储数据量
多10,000个
最多10,000个
最多100,000个
统计值
读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合国际标准和规范
ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准
校准模式
出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值
极限值监控
声、光报警提示超过极限值
测量单位
um,mm,cm;mils,inch,thou
操作温度
-10℃-60℃
存放温度
-20℃-70℃
数据接口
IrDA 1.0(红外接口)
电源
2节AA电池
标准
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840ASTM B244,B499,D7091,E376AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
体积
157mm x 75.5mm x 49mm
重量
约175g
约210g
约175g(内置)/230g(外置)
探头特性
型号特性